Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances

Fiche technique

Format : Broché
Nb de pages : 174 pages
Poids : 400 g
Dimensions : 16cm X 24cm
Date de parution :
ISBN : 978-1-78405-219-5
EAN : 9781784052195

Fiabilité des LED infrarouges

méthodologie d'évaluation par la physique des défaillances

de ,

chez Iste éditions

Collection(s) : Electronique

Paru le | Broché 174 pages

Professionnels

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Quatrième de couverture

Durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques

De nos jours, la fiabilité est devenue un centre d'intérêt et un véritable enjeu pour l'industrie mais également pour les laboratoires de recherche.

Cet ouvrage traite des méthodes modernes pour effectuer une analyse par la physique des défaillances de LED infrarouges. Il est désormais très rare d'effectuer des recherches fondamentales sans avoir une possibilité d'intégrer ces nouveaux dispositifs au sein d'une application bien identifiée.

Les méthodes proposées dans Fiabilité des LED infrarouges permettent de comprendre l'ensemble des méthodes d'analyses de défaillance avec des résultats issus de cas d'études réalisés au laboratoire IMS, en prenant exemple sur un composant simple : la LED. La physique des défaillances, la détermination de loi physique de défaillance ainsi que le calcul de la distribution de durée de vie sont ainsi abordés.

Biographie

Titulaire d'un doctorat en électronique de l'université de Bordeaux et d'une Habilitation à Diriger des Recherches, Yannick Deshayes est maître de conférences à l'université de Bordeaux. Son domaine de recherche principal est l'évaluation des mécanismes de défaillance utilisant la complémentarité des mesures électriques et optiques ainsi que les simulations par éléments finis.

Titulaire d'un doctorat en électronique de l'université de Bordeaux et d'une Habilitation à Diriger des Recherches, Laurent Béchou est professeur à l'université de Bordeaux et responsable d'une équipe de recherche au Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système. Son principal domaine d'expertise couvre la fiabilité et les mécanismes physiques de défaillance à l'origine du vieillissement prématuré de composants pour l'optronique et la photonique intégrée.