Collection(s) : Formations & techniques
Paru le 16/05/2017 | Broché III-230 pages
Professionnels
Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation. Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur...
Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.
Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM).
Lahcen Khouchaf est professeur habilité en physique avancée à l'Institut Mines-Telecom, associé à l'université des sciences et technologies de Lille. Christian Mathieu est professeur des universités de chimie à l'université d'Artois. Ils sont auteurs de plus d'une quarantaine de publications internationales dans le domaine.
