Physique : cristallographie et diffraction, application à la diffraction électronique : cours et exercices corrigés

Fiche technique

Format : Broché
Nb de pages : XIV-220 pages
Poids : 465 g
Dimensions : 18cm X 26cm
Date de parution :
ISBN : 978-2-340-02338-3
EAN : 9782340023383

Physique

cristallographie et diffraction, application à la diffraction électronique
cours et exercices corrigés

de

chez Ellipses

Collection(s) : Technosup

Paru le | Broché XIV-220 pages

Master

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Quatrième de couverture

L'ouvrage : niveau C (Écoles d'ingénieurs - Master)

Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons.

Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Écoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles.

L'ouvrage comporte cinq chapitres :

  • Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction.
  • Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique.
  • Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.
  • Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5).
  • Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage.

Biographie

Claude Esnouf, Professeur des universités, a accompli sa carrière à l'INSA de Lyon au département des Sciences et Génie des Matériaux. Spécialiste des techniques de caractérisation microstructurale par le biais de la microscopie électronique, il a mené de nombreuses recherches en science des matériaux.