Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Fiche technique

Format : Broché
Nb de pages : 232 pages
Poids : 400 g
Dimensions : 16cm X 24cm
Date de parution :
ISBN : 978-1-78405-794-7
EAN : 9781784057947

Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

de , ,

chez Iste éditions

Serie : Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol 2

Collection(s) : Génie mécanique et mécanique des solides

Paru le | Broché 232 pages

Professionnels

78.07 Indisponible

Quatrième de couverture

Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement.