Caractérisation et nettoyage du silicium : caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

Fiche technique

Format : Cartonné
Nb de pages : 192 pages
Poids : 510 g
Dimensions : 16cm X 24cm
Date de parution :
EAN : 9782746206052

Caractérisation et nettoyage du silicium

caractérisation physico-chimique et nettoyage par voie humide

chez Lavoisier-Hermès

Collection(s) : Traité EGEM

Paru le | Cartonné 192 pages

Professionnels

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Quatrième de couverture

Passe en revue les étapes élémentaires de la fabrication de composants micro-électroniques : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie. Présente les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Pour chaque étape, sont détaillés le procédé, les équipements et la physique des techniques.