Collection(s) : Metis LyonTech
Paru le 01/09/2011 | Broché XVI-579 pages
Professionnels
Caractérisation microstructurale des matériaux
Analyse par les rayonnements X et électronique
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.
Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.
Claude Esnouf est professeur émérite à l'Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSAL). Ingénieur et licencié en sciences physiques, il a enseigné au premier cycle et au département de spécialité Sciences et Génie de Matériaux de l'INSAL l'électromagnétisme, l'optique ondulatoire et la caractérisation des matériaux. Docteur de l'Université de Lyon, il a mené de nombreuses recherches en science des matériaux par le biais de l'analyse structurale. Il s'est spécialisé dans les techniques de microscopie électronique qu'il a largement contribué à développer.
