Rayon Technologies et industries
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Fiche technique

Format : Broché
Nb de pages : 289 pages
Poids : 400 g
Dimensions : 16cm X 24cm
ISBN : 978-1-78405-165-5
EAN : 9781784051655

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée


Paru le
Broché 289 pages

Quatrième de couverture

Fiabilité des systèmes multiphysiques

Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l'intégration en synergie de la mécanique, de l'électronique, de l'automatique et de l'informatique dans la conception et la fabrication d'un produit en vue d'optimiser sa fonctionnalité.

Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.

Biographie

Spécialiste en modélisation et spectroscopie, Pierre Richard Dahoo est professeur à l'université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ), chercheur au LATMOS et Program Manager de la chaire Materials Simulation and Engineering de l'UVSQ.

Expert en fiabilité à Valeo et à Vedecom, Philippe Pougnet est docteur ingénieur de l'université scientifique et médicale de Grenoble et ingénieur INPG, responsable du management de la fiabilité de systèmes mécatroniques fabriqués en grande série.

Spécialiste en optimisation, fiabilité et dynamique des structures, Abdelkhalak El Hami, professeur à l'INSA-Rouen, est responsable de la chaire de mécanique du CNAM en Normandie et de plusieurs projets pédagogiques européens.

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